N–T fitメニュー
本ドキュメントでは、Launcher の Hall effect(N–T fit)メニューについて説明する。 対象スクリプト:
5-057-Hall-N-T.ini
1. 概要
本メニューは、Hall測定データ(キャリア濃度 n、移動度 μ)の温度依存性を解析するツール群である。
主な機能:
n–T フィッティング(自由電子モデル)
μ, σ を含む同時解析
VASP DOS を用いた半導体統計計算
EF(フェルミ準位)依存解析
2. メニュー構成
2.1 [Hall effect (N-T fit)].select
[Hall effect (N-T fit)].select
End
初期化処理は最小限(ルート設定なし)
3. GUI対応ボタン一覧
画像に対応する主ボタン:
ボタン |
機能 |
|---|---|
ResiTest8400 |
データ変換 |
Simulation |
n–T シミュレーション |
Fitting |
n–T フィット |
me |
有効質量計算 |
T dependence |
温度依存 |
EF dependence |
EF依存 |
4. データ変換
5. 自由電子モデル(FEA)
6. VASP DOS 連携
7. 設計上の特徴
7.1 n–T 解析
μ–T ではなく n–T にフォーカス
キャリア生成・統計を重視
7.2 FEA(Free Electron Approximation)
有効質量近似
フェルミ分布
バンド端モデル
7.3 VASP連携
DOS → 物性変換
第一原理計算との接続
8. 解析フロー(重要)
典型的な手順:
データ変換(ResiTest)
Simulation(挙動確認)
Fitting(パラメータ推定)
必要に応じて VASP解析
9. 画面との対応
画像の構成:
左:Hall effect (N-T fit)
下:各機能ボタン
右:共通操作
対応:
[Button*.Hall effect (N-T fit)]→ ボタン各
[N-T-*]→ 処理ロジック
10. まとめ
Hall effect(N–T fit)メニューは、キャリア濃度の温度依存解析に特化したモジュールである。
特に重要な特徴:
n(T) を中心とした解析
μ・σとの統合解析
VASP DOS との連携
付録:ボタン対応表
Button |
Caption |
機能 |
|---|---|---|
2 |
ResiTest8400 |
データ変換 |
5 |
Simulation |
n–T シミュレーション |
6 |
Fitting |
フィット |
17 |
me |
有効質量 |
18 |
T dependence |
温度依存 |
20 |
EF dependence |
EF依存 |