# EMA.pl プログラムドキュメント

## 1) プログラムの動作
このPerlプログラムは、異なる体積分率のシリコン薄膜の光学特性を計算し、結果をCSVファイルに出力します。プログラムは、指定されたエネルギー範囲内での複素誘電率（e1, e2）と散乱係数（S2）を計算します。体積分率は0から1までの範囲で10段階に分けて変化させ、各体積分率に対して計算結果を別々のファイルに保存します。

## 2) 必要な非標準ライブラリとインストールコマンドとインストール方法
このプログラムは以下の非標準ライブラリを使用しています：

- `JFile`
- `MultiColumnData`
- `Sci::Ellipsometry`
- `Sci::OpticalMaterial`

これらのライブラリはCPANからインストールできます。以下はインストールコマンドの例です：

```bash
cpan JFile
cpan MultiColumnData
cpan Sci::Ellipsometry
cpan Sci::OpticalMaterial
```

インストール方法は、ターミナルで上記のコマンドを実行するだけです。CPANがインストールされていない場合は、まずCPANをインストールしてください。

## 3) 必要な入力ファイル
プログラムは、以下の入力ファイルを必要とします：

- `SI100.JEL`: c-Siの誘電率モデルを定義するためのデータファイル。このファイルはプログラムと同じディレクトリに存在する必要があります。

## 4) 実行後に生成される出力ファイル
プログラムは、各体積分率に対して以下の形式のCSVファイルを生成します：

- `out-VfX.X.csv`: ここで `X.X` は体積分率を示します（例: `out-Vf0.0.csv`, `out-Vf0.1.csv`, ..., `out-Vf1.0.csv`）。各ファイルには、エネルギー、e1、e2、S2の値が含まれています。

## 5) コマンドラインでの使用例 (Usage)
プログラムを実行するには、以下のコマンドを使用します：

```bash
perl EMA.pl
```

このコマンドを実行すると、プログラムが開始され、指定されたエネルギー範囲での計算が行われ、結果がCSVファイルに出力されます。